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GE檢測(cè)控制技術(shù)即將參與2012年中國(guó)半導(dǎo)體展覽會(huì)Semicon China

2012/3/8 13:23:58

“GE檢測(cè)控制技術(shù)即將參加在上海舉辦的2012年中國(guó)半導(dǎo)體展覽會(huì) Semicon China.即時(shí)會(huì)向觀眾展示GE的高性能X射線檢測(cè)系統(tǒng)，這是一款GE去年新推出的具有卓越的性?xún)r(jià)比的檢測(cè)系統(tǒng)，可簡(jiǎn)便地用于半導(dǎo)體分裝封裝和線路板組裝等電子行業(yè)領(lǐng)域。除此之外，還會(huì)展示GE的傳感器，現(xiàn)場(chǎng)儀表以及超聲檢測(cè)系統(tǒng)等。歡迎蒞臨指導(dǎo)，GE展位號(hào)：E5館5505-5507，上海新國(guó)際展覽中心。”